与＂光学测量＂相关的内容：
为您找到相关结果约为5个
光学共聚焦技术的核心优势MarSurf CM Select的核心技术在于其采用了高精度的光学共聚焦测量原理。光学共聚焦技术通过使用共聚焦显微镜，能够实现对样品表面进行非接触式、高分辨率的测量。与传统接触式测量方法相比，光学共聚焦技术具有以下显著优势：非接触测量：避免了测量过程中对样品表面的损伤，特别...
时间：2025-02-27 09:54:28 点击数：232
产品信息典型测量任务·粗糙度测量符合ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178·表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学）·轮廓和形状 (2D, 3D)·孔，颗粒分析·缺陷检测·...根据应用调整的测量解决方案作为一个多传感器系统，MarSurf CM select 将...
时间：2025-01-14 16:33:33 点击数：723
产品信息高性能实验室和 QA 系统MarSurf CM expert 有坚固的结构且对环境波动不敏感，所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 额外的手动 Z 定位、大 x 和 y 行程范围和能够实现自动化，使其有优异的易用性。典型测量任务·粗糙度测量符合ISO 4287...
时间：2025-01-10 12:16:14 点击数：717
产品信息灵活的全方位测量解决方案MarSurf CM explorer 有坚固的结构且对环境波动不敏感，所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。典型测量任务·粗糙度测量符合ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178·表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学）·轮廓...
时间：2025-01-10 12:16:14 点击数：609
产品信息典型测量任务·粗糙度测量符合ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178·表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学）·轮廓和形状 (2D, 3D)·孔，颗粒分析·缺陷检测·...移动性MarSurf CM mobile 用于测量难以移动的大型物体和样品（例如辊轧辊...
时间：2025-01-10 12:16:14 点击数：656
