MarSurf CM expert
Mahr 3D光学共聚焦测量仪

高性能实验室和 QA 系统
MarSurf CM expert 是强大的可配置型共聚焦显微镜
用于表面的三维测量和分析 - 非接触
所属分类:3D光学共聚焦
全国服务热线:400-967-0607
产品详情
技术数据




产品信息


高性能实验室和 QA 系统

MarSurf CM expert  有坚固的结构且对环境波动不敏感,所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 

额外的手动 Z 定位、大 x 和 y 行程范围和能够实现自动化,使其有优异的易用性。






典型测量任务

·粗糙度测量符合

ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178

·表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学)

·轮廓和形状 (2D, 3D)

·孔,颗粒分析

·缺陷检测






非常高数据质量

我们非常重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录,可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的非常高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。





产品信息

高性能实验室和 QA 系统

MarSurf CM expert  有坚固的结构且对环境波动不敏感,所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 

额外的手动 Z 定位、大 x 和 y 行程范围和能够实现自动化,使其有优异的易用性。


典型测量任务

·粗糙度测量符合

ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178

·表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学)

·轮廓和形状 (2D, 3D)

·孔,颗粒分析

·缺陷检测


非常高数据质量

我们非常重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录,可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的非常高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。






测量头
explorerexpertselectmobile
图像采集模块x∙y 单一测量最大测量点数量1200 × 1200 =1.44 Mio.1200 × 1200 =1.44 Mio.1200 × 1200 =1.44 Mio.1200 × 1200 =1.44 Mio.
最大分辨率下最大图像率 (Hz)125/(100)25/(100)100 / (25)25/100
HDR 功能(16 位)标准标准标准标准
彩色图像采集可选可选可选可选
最大测量点数 量2 (Mio.)
1213121312131213
垂直测量模块电动定位单元线性编码器标准标准可选可选
垂直测量范围 (mm)707010035
精细定位模 块(压电模 块)垂直测量范围 (µm)350350350350
x、y、z 碰撞 检测
标准标准可选-
物镜支架4 孔物镜转盘标准标准可选标准
无物镜转盘-可选标准可选

1) 应要求提供 2) 拼接测量可采集的测量点最大总数


配置explorerexpertselectmobile
L 形支架
LL龙门式便携式
质量 (kg)25483008.3
定位体积x ∙ y ∙ z (mm)50 × 50 × 70100 × 100 × 701200 × 200 × 100 550 × 50 × 35
300 × 300 × 100
x、y 线性编码器
标准标准可选标准
系统控制器集成集成轮式控制柜集成
被动减振集成集成标准可选
主动减振可选可选可选可选

1) 可利用集成的手动 z 轴扩展到 150mm


免费测样

有任何需要或者疑问欢迎随时与我们联系