引领微观世界测量革命，德国马尔发布MarSurf CM explorer新一代3D光学共聚焦系统

核心技术：光学共聚焦技术的极致演绎

MarSurf CM explorer采用了先进的白光共聚焦技术。通过将高强度的白光聚焦于被测物表面的一个微小点上，并利用共聚焦针孔滤除杂散光，系统能够以纳米级的分辨率精准定位该点的三维坐标。通过高速扫描，数以百万计的数据点被瞬间捕获，最终在电脑中重构出样品表面的真实三维形貌。

MarSurf CM explorer的突出优势体现在以下几个方面：

1. 前所未有的高精度与重复性：系统具备亚纳米级的纵向分辨率和微米级的横向分辨率，能够清晰分辨细微的表面起伏、划痕和结构。其卓越的测量重复性确保了数据的绝对可靠，满足严苛的实验室与生产环境要求。

2. 超凡的测量速度：得益于优化的光学路径和高速扫描技术，CM explorer能够在极短时间内完成大范围的3D形貌测量，大幅提升了检测效率，尤其适用于生产线上的快速抽检与全检。

3. 卓越的材料适应性：无论是高反光的金属镜面、吸光的暗色橡胶，还是透明的玻璃或薄膜，CM explorer都能轻松应对，克服了传统视觉测量在特殊材料上的技术瓶颈。

4. 强大的分析软件与一键式操作：内置的MarSurf Mountains®分析软件功能极其强大，提供超过300种国际标准参数（如Sa, Sq, Sz等），并能进行自定义的轮廓、体积、功能分析等。直观的用户界面使得操作人员无需深厚的技术背景，即可完成从测量到生成专业报告的全程工作，真正实现了“一键测量”。

5. 灵活的配置与自动化集成：设备提供多种物镜与载物台选项，测量范围可从毫米级覆盖至数百毫米。同时，其开放的接口和稳固的结构设计，使其能够轻松集成到自动化生产线和机器人单元中，为实现工业4.0下的智能制造奠定基础。